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  • Park
    NX20
    不良解析や大型試料を用いた研究に
    付加価値の高い選択肢

不良解析や大型試料における研究開発のための最先端ナノ形状計測ツール

FAエンジニアとして、あなたは結果を期待されます。器具により起こされるデータのエラーは許されません。パークNX20は、世界で最も正確で大きな試料のAFMとしての評判と、そのデータの正確性において半導体やハードディスク業界で非常に高く評価されています。

 

より強力な不良解析ソルーション

パークNX20は、デバイス障害の理由をより簡単に明らかにし、より創造的なソリューションを開発するためのユニークな機能が装備されています。その比類のない精度によって仕事に集中でき高解像度のデータの提供を可能とします。その完全非接触™モードスキャンによってチップがより鋭くかつ長くされるので、多くの時間とお金を無駄にする必要がありません。

初心者レベルのエンジニアにも簡単操作

パークNX20は、業界で最もユーザーフレンドリーな設計と自動化されたインターフェイスを持っているので、ツールの使用やジュニアエンジニアの監督にかかる時間を省くことができます。これは、より大きな問題を解決する上であなたの経験を生かすことができ、顧客へ明確かつタイムリーな障害分析ができるようになります。

NX20-概要