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会社の歴史

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歴史上最も長い技術経験を持つ

四半世紀以上前、パークシステムの基盤はスタンフォード大学で築かれました。そこで、パークシステムの創設者(サンイル・パーク博士)は原子間力顕微鏡技術を最初に開発したグループの不可欠なメンバーとして働いていました。技術を完成した後彼は、最初の商用原子間力顕微鏡を製作するようになり、後にパークシステムが誕生しました。

2013

Park NX-HDM: ハードディスク メディアや半導体基板用自動欠陥検査及びサブÅの表面粗さ計測用AFMnx-hdm.jpg

 

2012

Park NX20: 不良解析・品質保証ラボ向けの世界で最も正確なAFMpark-nx20.jpg

 

2011

Park NX10: 真の試料形状計測機能を持つ新プロダクトラインのフラグシップモデルpark-nx10.jpg

2009

XE-Bio:イオンコンダクタンス顕微鏡機能で生体細胞をイメージングする新型生体用 AFMxe-bio.jpg

 

2008

XE-3DM:高分解能3Dメトロロジー用新型3D AFMxe-3dm.jpg

 

2004

試料の非破壊計測を可能にした真のノンコンタクト モードTM

 

 

2002

平坦でリニアなXYスキャンを可能にしたクロストーク排除(XE)AFM

 

 

1989

世界で最初に市販されたAFM (Park Scientific Instruments)
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1985

AFMの発明(Stanford Univ.)
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