物理的変数間の関係を技術的に理解したいというニーズは高まり続けています。日常的に使用される材料や構造体にも、ナノスケールの新しい相互作用が発見されています。AFM (Atomic Force Microscope：原子間力顕微鏡)は、表面科学、材料科学、その他さまざまな物理化学の研究に対して新しい測定手段を提供するものです。パークシステムズは、研究者が知識や理解を深める上で役立つ、さまざまな基本・応用モードを提供しています。

材料科学向けの製品ソリューション

パークシステムズが提供するAFMは、市場で最も先進的なテクノロジーを採用していることに加えて、お客様にとっての使いやすさも考慮されています。お客様を意識した弊社の製品開発への取り組みを反映して、ユーザーインターフェイスは使いやすく、AFMの操作の習得に必要な時間や労力は最低限に抑えられています。

NX10
低ノイズのクローズドループセンサーによる高速AFMの商品化

XE-70
小型サンプル測定汎用モデル

XE-100
非接触ナノスケール測定分野でAFM/SPMの最高水準のパフォーマンスを実現する、低ドリフト率、自動ステップアンドスキャン機能搭載の弊社のフラッグシップAFM

XE-120
ラマン分光法など、高度な光学測定技法との柔軟な統合に対応し、一般的な倒立光学顕微鏡製品のトップとして位置付けられる多用途AFM

XE-150
符号化電動試料ステージと自動ステップアンドスキャン試料測定機能を搭載した、大型試料向けのAFM。


温度制御オプション
温度制御に対応する加熱・冷却ステージ

環境制御オプション
酸素および湿度に敏感な試料向けの大気制御機能を提供。

材料科学の対象用途

原子間力顕微鏡とラマン分光法
グラフェン膜/グラファイト
単結晶YIG (Yttrium Iron Garnet：イットリウム鉄ガーネット)
薄膜 - ZnO
磁性ナノ構造のパターン配列
Tr-PCM (Time-Resolved Photocurrent Mapping：時間分解光電流マッピング)