ナノテクノロジー分野を支えるパートナー

データの質は、研究の信頼性を高め、製品の歩留まりを向上させるためにきわめて重要です。高品質な結果を得るための鍵となるのが、ナノスケールでのデータの精度です。パークシステムズは1989年に世界で初めて市販AFMを開発し、研究開発の新しい世界を開拓しました。以来、ナノスケールのイメージングおよび高精度のデータの取得を可能とする画期的なテクノロジーで業界をリードし続けています。また、研究および産業界のナノテクノロジーソリューションパートナとして、市場で最もライフサイクルコストの低いAFMを提供するために、システム設計、品質管理、およびサービスの各分野で技術革新を進めています。これによって、予算、データ精度、および生産性のニーズを満たす最先端のAFMを必要とする新しい世代の研究者とエンジニア向けにトータルソリューションを提供しています。

    1989 : 世界初のAFM装置商品化(Park Scientific Instruments)
    1992 : クローズドループスキャナ(Park Scientific Instruments)
    2002 : クロストーク除去(XE)AFMによる平坦な測定とXY高線形性走査
    2004 : 真の非接触モードTM測定による非破壊測定の実現
    2008 : XE-3DM,高分解能三次元計測のための新3D-AFM
    2009 : XE-Bio, イオンコンダクタンス顕微鏡(ICM)搭載生細胞観察用新バイオAFM (ICM)
    2011 : NX10, 真の試料トポグラフィーTMを与える新プロダクトラインのフラッグシップAFM


   

原子間力顕微鏡
研究用 AFM


NX10
XE-BIO
XE-NSOM
XE-70
XE-100
XE-120
XE-150

 

研究の信頼性は正確な結果から導かれるため、ナノテクノロジーの研究者にとって高精度のデータ取得は最優先課題です。NX10は、パークシステムズの新製品ラインのフラッグシップAFMであり、 ... +more


 




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