ナノテクノロジー分野を支えるパートナー
データの質は、研究の信頼性を高め、製品の歩留まりを向上させるためにきわめて重要です。高品質な結果を得るための鍵となるのが、ナノスケールでのデータの精度です。パークシステムズは1989年に世界で初めて市販AFMを開発し、研究開発の新しい世界を開拓しました。以来、ナノスケールのイメージングおよび高精度のデータの取得を可能とする画期的なテクノロジーで業界をリードし続けています。また、研究および産業界のナノテクノロジーソリューションパートナーとして、市場で最もライフサイクルコストの低いAFMを提供するために、システム設計、品質管理、およびサービスの各分野で技術革新を進めています。これによって、予算、データ精度、および生産性のニーズを満たす最先端のAFMを必要とする新しい世代の研究者とエンジニア向けにトータルソリューションを提供しています。
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1989 : 世界初のAFM装置商品化（Park Scientific
Instruments）
1992 : クローズドループスキャナ（Park Scientific
Instruments）
2002 : クロストーク除去（XE）AFMによる平坦な測定とXY高線形性走査
2004 : 真の非接触モードTM測定による非破壊測定の実現
2008 :
XE-3DM，高分解能三次元計測のための新3D-AFM
2009 : XE-Bio,
イオンコンダクタンス顕微鏡（ICM）搭載生細胞観察用新バイオAFM (ICM)
2011 : NX10,
真の試料トポグラフィーTMを与える新プロダクトラインのフラッグシップAFM
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